Uređaj za spektrometriju fotoelektrona rendgenskim zrakama (Šestar ID: 435)

Uređaj za spektrometriju fotoelektrona rendgenskim zrakama
  • Opći podaci o instrumentu

    Skraćeni naziv instrumenta

    XPS

    Inventarni broj

    877 (Sveučilište u Rijeci)

    Opći opis

    Uređaj za spektrometeriju fotoelektrona rendgenskim zrakama (XPS) je visokovakumski uređaj koji koristi rendgensko zračenje za ispitivanje površne čvstih materijala. Rendgensko zračenje može pobuditi elektron s površine materijala, ukoliko je njegova energija veća od energije vezanja elektrona u materijalu. Pobuđeni fotoelektroni se emitiraju samo iz površinskih slojeva materijala (1-10 nm udaljenosti od površine) – što XPS čini površinskom tehnikom. Energija fotoelektrona karakteristična je za atom iz kojeg se emitira, čime se može odrediti elementni sastav površine uzorka. Budući da se energija vezanja elektrona malo mijenja u ovisnosti o kemijskom okruženju atoma, ovom tehnikom je moguće dobiti informacije o kemijskom vezanju atoma na površini materijala. XPS se može koristi za dobivanje informacija o prisutnim elementima i njihovom kemijskom vezanju na površine bilo kojeg čvrstog tijela.

    Uža područja primjene

    fizika materijala, površinska fizika

    Namjena instrumenta

    analiza elementnog sastava površine, ispitivanje kemijskog vezanja atoma na površini uzorka

    Opis na stranicama zavoda/laboratorija

    http://phy.uniri.hr/hr/ustroj/29-hr/ustroj/laboratoriji/792-spektroskopija-elektrona-x-zrakama.html

    Tijelo koje je financiralo nabavku opreme

    Ministarstvo znanosti i obrazovanja RH (MZO)

    Naziv projekta u sklopu kojeg je instrument nabavljen

    Osnivanje Laboratorija za fiziku površina i materijala (povratnički projekt Hrvatske zaklade za znanost)

    Kategorija

    kapitalna

    Vrsta instrumenta

    spektrometar

    Vrsta analize

    površinska analiza

    Primjene

    određivanje kemijske veze

    Ključne riječi

    rendgensko zračenje, elektronska spektroskopija, kemijska analiza

    Samostalan/Vezan

    Samostalan instrument

    Trenutno stanje instrumenta

    Potpuno funkcionalan

    Procijenjeni broj korisnika

    40

    Godina proizvodnje

    2009

  • Ustanova i lokacija

    Ustanova

    Sveučilište u Rijeci, Centar za mikro- i nanoznanosti i tehnologije
    Radmile Matejčić 2, Rijeka

    Zavod

    Zavod za eksperimentalnu i primijenjenu fiziku

    Laboratorij

    Laboratorij za fiziku površina

    Grad

    Rijeka

    Ulica i broj

    Radmile Matejčić 2

    Krilo/Kat/Soba

    O-S20

  • Uvjeti korištenja

    Način korištenja instrumenta

    znanstvena suradnja, servis uz naplatu za sve korisnike

    Upute za korisnike

    Uzorci za analizu moraju biti u krutom stanju (čvrsti ili u praškastom obliku), nije dozvoljen samostalan rad vanjskim korisnicima na instrumentu - mjerenje i analizu rezultata rade ovlašteni korisnici.

    Popis ovlaštenih korisnika

    doc. dr. sc. Robert Peter (Odjel za fiziku i Centar za mikro- i nanoznanosti, Sveučilište u Rijeci)
    doc. dr. sc. Iva Šarić (Odjel za fiziku i Centar za mikro- i nanoznanosti, Sveučilište u Rijeci)
    doc. dr. sc. Ivana Jelovica Badovinac (Odjel za fiziku i Centar za mikro- i nanoznanosti, Sveučilište u Rijeci)
    prof. dr. sc. Mladen Petravić (Odjel za fiziku, Sveučilište u Rijeci)

    Broj istovrsnih instrumenata u ustanovi

    1

    Znanstvena suradnja

    kvalificirana/zadužena osoba radi cjelovitu analizu (priprema, snimanje i interpretacija)

    Je li instrument prenosiv

    ne

    Je li moguće korištenje instrumenta na daljinu (remote)

    ne

  • Kontakt osoba I

    Ime i prezime

    Robert Peter

    Titula

    doc. dr. sc.

    E-mail

    rpeter@uniri.hr

    Telefon

    051 584 621

    Faks

    051 584 649

  • Kontakt osoba II

    Ime i prezime

    Ivana Jelovica Badovinac

    Titula

    doc. dr. sc.

    E-mail

    ijelov@uniri.hr

    Telefon

    051 584 607

    Faks

    051 584 649

  • Karakteristike

    Model

    SPECS XPS spektrometar

    Mrežna (URL) adresa instrumenta na stranicama proizvođača

    http://www.specs.de/cms/front_content.php?idcat=295

    Princip rada i mjerna tehnika

    XPS spektrometar analizira energiju fotoelektrona, pobuđenih s površine materijala pomoću monokromatskog rendgenskog zračenja. Uz elementnu analizu površine materijala, male razlike u energiji vezanja elektrona u atomu daju informacije o načinu kemijskog vezanja atoma na površini materijala.

    Radno i mjerno područje

    raspon energija elektrona: 0-2900 eV

    Proizvođač

    SPECS, Berlin, Njemačka

    Mrežna (URL) adresa proizvođača

    http://www.specs.de/cms/front_content.php?idcat=209

    Nabavna cijena

    1800000

    Datum nabave

    1.1.2009

    Vijek trajanja

    15 godina

    Ostale tehničke karakteristike

    a) monokromatizirani izvor rendgenskih zraka (FOCUS 500):
    - duala anoda (Al/Ag) – Al Kα (1486.74 eV) or Ag Lα (2984.3 eV)
    - monokromator - kvarcni momokristal
    - mogućnost rada u fokusirajućem modu
    b) precizan XYZ manipulator nosača uzoraka s kontroliranim grijanjem i hlađenjem
    c) hemisferični analizator energije elektrona (PHOIBOS 100 MCD-5):
    - promjer 100 mm
    - detektor s 5 kanala
    - rezolucija 0.85 eV (nefokusirajući način rada) ili 0.6 eV (fokusirajući način rada)
    d) elektronski top za neutralizaciju površine (FG500)
    d) ionski top za niskoenergetske ione inertnih i reaktivnih plinova (IQE 11/35) - raspon energija 0.3 - 5 keV, ionski snopovi velikog promjera, koristi se prvenstveno za ionsku implantaciju
    e) ionski top s fokusiranom ionskom zrakom i diferencijalnim pumpanjem (IQE 12/38) - raspon energija 0.3 - 5 keV, promjer ionske zrake: 160 μm, raster ionske zrake u X-Y smjeru: ±5 mm, koristi se prvenstveno za ionsko rasprašivanje
    f) analizator rezidualnih plinova u komori (Prisma Plus QMG 220)

  • Slike
    XPS spektrometar proizvođača SPECS
    XPS spektrometar proizvođača SPECS
  • Dokumenti
  • Linkovi

Natrag