Pretražni mikroskop s osjetnikom Bruker Dimension Icon (Šestar ID: 1481)

Pretražni mikroskop s osjetnikom Bruker Dimension Icon
  • Opći podaci o instrumentu

    Skraćeni naziv instrumenta

    SPM

    Inventarni broj

    4042

    Tijelo koje je financiralo nabavku opreme

    Europska komisija

    Naziv projekta u sklopu kojeg je instrument nabavljen

    Razvoj istraživačke infrastrukture na Kampusu Sveučilišta u Rijeci

    Kategorija

    kapitalna

    Vrsta instrumenta

    mikroskop

    Vrsta analize

    površinska analiza

    Ključne riječi

    pretražni mikroskop s osjetnikom, mikroskop atomskih sila, skenirajući tunelirajući mikroskop

    Samostalan/Vezan

    Samostalan instrument

    Trenutno stanje instrumenta

    Potpuno funkcionalan

  • Ustanova i lokacija

    Ustanova

    Sveučilište u Rijeci, Centar za mikro- i nanoznanosti i tehnologije
    Radmile Matejčić 2, Rijeka

    Laboratorij

    Laboratorij za precizno inženjerstvo i tehnologiju mikro- i nanosustava

    Grad

    Rijeka

    Ulica i broj

    Radmile Matejčić 2

    Krilo/Kat/Soba

    Zgrada odjela/Suteren/O-S23

  • Uvjeti korištenja

    Način korištenja instrumenta

    samostalni rad - ovlašteni korisnici, rad uz pomoć ovlaštenog korisnika, znanstvena suradnja

  • Kontakt osoba I

    Ime i prezime

    Ervin Kamenar

    Titula

    dr. sc.

    E-mail

    ekamenar@riteh.hr

    Telefon

    051 651 585

  • Kontakt osoba II

    Ime i prezime

    Saša Zelenika

    Titula

    prof. dr. sc.

    E-mail

    sasa.zelenika@riteh.hr

    Telefon

    051 651 538

  • Karakteristike

    Model

    Bruker Dimension Icon

    Mrežna (URL) adresa instrumenta na stranicama proizvođača

    https://www.bruker.com/products/surface-and-dimensional-analysis/atomic-force-microscopes/dimension-icon/overview.html

    Princip rada i mjerna tehnika

    Pretražni mikroskop s osjetnikom (SPM) koji uključuje mikroskop atomskih sila (AFM) i pretražni tunelirajući mikroskop (STM) s pripadajućim softverom.

    Proizvođač

    Bruker

    Mrežna (URL) adresa proizvođača

    https://www.bruker.com

    Detaljne tehničke karakteristike

    - Podržava kontaktno i mjerenje u „tapping“ režimu koje omogućava ograničavanje kontaktnih sila na <100pN, tj. vrijednost puno manju od vrijednosti karakterističnih za druge slične uređaje – tzv. “PeakForce tapping” tehnologija.
    - Prikaz izmjerenih podataka na 5.120 x 5.120 piksela.
    - Raspon skeniranja do 90 µm x 90 µm, Z raspon do 10 µm.
    - Uzorak može biti velik nekoliko mm te debljine do 15 mm a pričvršćen je za držač promjera 210 mm pomoću vakuumske glave.
    - Dvosmjerna ponovljivost pozicioniranja 3 µm na području ispitivanja od 180 x 150 mm.
    - Uključuje grijanje (puzanje <200 pm/min) i izolaciju vibracija (1” Si prigušujući „jastuk“ + komprimirani zrak; < 30 pm RMS), mikroskop i 5 Mpx CCD kameru, …
    - CE certifikat.

  • Slike
    Pretražni mikroskop s osjetnikom (SPM)
    Pretražni mikroskop s osjetnikom (SPM)
  • Linkovi

Natrag