Pretražni elektronski mikroskop, JSM 7000F

Pretražni elektronski mikroskop, JSM 7000F
  • Opći podaci o instrumentu

    Skraćeni naziv instrumenta

    FE SEM

    Opći opis

    Pretražni elektronski mikroskop s emisijom polja elektrona, FE SEM je vrsta elektronskog mikroskopa pomoću kojeg je moguće dobiti visokorezolucijsku sliku istraživanog objekta.

    Osnovne karakteristike pretražnog elektronskog mikroskopa JSM 7000F su:
    -Optička rezolucija 1,2 nm
    -Rad pri vrlo niskim radnim naponima čime se spriječava površinsko elektrostatsko nabijanje uzorka
    -Simultana analiza kemijskih elemenata (kvalitativna + puna kvantitativna) od berilija do urana (uključujući sve transuranske elemente) u točki, crti i panoramski
    -Pamćenje pojedinih točki, crta ili panorame i njihovo ponovno vraćanje za analizu
    -Mapiranje distribucije kemijskih elemenata u uzorku
    -Dovoljno prostora u komori za rad s prirodnim ili komercijalnim uzorcima
    -Sinkronizirano pomicanje uzoraka po X, Y, Z osi, tiltanje, te okretanje od 0 do 360 o

    Uža područja primjene

    Kemija, Fizika, Znanost o materijalima, Farmaceutika, Stomatologija, Geologija, Minerologija

    Namjena instrumenta

    veličina i distribucija veličina čestica, poroznost čestica, homogenost materijala, mehanička oštećenja i strukturni defekti,određivanje debljine i homogenosti filmova

    Popis usluga

    analiza funkcionalnih i strukturnih materijala, analiza minerala i geoloških uzoraka, analiza suspendiranih čestica u zraku

    Opis na stranicama zavoda/laboratorija

    http://www.irb.hr/Istrazivanja/Zavodi-i-centri/Zavod-za-kemiju-materijala/Laboratorij-za-sintezu-novih-materijala

    Sredstva nabave

    MZOŠ

    Naziv projekta u sklopu kojeg je instrument nabavljen

    Sinteza i mikrostruktura metalnih oksida i oksidnih stakala

    Kategorija

    kapitalna (više od 1000000 kn)

    Vrsta instrumenta

    mikroskop

    Vrsta analize

    površinska analiza

    Primjene

    vizualizacija

    Ključne riječi

    FE SEM, EDS, pretražna elektronska mikroskopija

    Samostalan/Vezan

    Samostalan instrument

    Funkcionalnost

    Potpuno funkcionalan

    Procijenjeni broj korisnika

    500

    Godina proizvodnje

    2005

  • Ustanova i lokacija

    Ustanova

    Institut Ruđer Bošković
    Bijenička cesta 54, Zagreb

    Zavod

    Zavod za kemiju materijala

    Laboratorij

    LSNM

    Grad

    Zagreb

    Ulica i broj

    Bijenička cesta 54

    Krilo/Kat/Soba

    X/suteren/002A

  • Uvjeti korištenja

    Način korištenja instrumenta

    samostalni rad - ovlašteni korisnici, servis uz naplatu za sve korisnike

    Upute za korisnike

    Uzorci moraju biti u čvrstom agregatnom stanju (npr. metali, slitine, keramike, itd.). Ne smiju sadržavati hlapiva organska otapala, vodu i radioaktivne izotope i ne smiju sadržavati eksplozivne komponente. Upite o FE SEM/EDS analizi molimo poslati e-mail

    Cjenik korištenja

    Za korisnike iz IRB-a:

    Pretraživanje uzorka i snimanje detalja: 130 Kn / h
    Pretraživanje uzorka i snimanje detalja i elementna analiza: 177.73 Kn / h

    Za korisnike iz sustava znanosti:
    Pretraživanje uzorka i snimanje detalja: 382,01 Kn/h + PDV
    Pretraživanje uzorka i snimanje detalja i elementna analiza: 439,61 Kn/h + PDV

    Za korisnike izvan sustava znanosti RH:
    Pretraživanje uzorka i snimanje detalja: 1.217,72 kn/h + PDV
    Pretraživanje uzorka i snimanje detalja i elementna analiza: 1.468,18 Kn/h + PDV



    Popis ovlaštenih korisnika

    Dr. Mira Ristić (ristic@irb.hr)
    Prof. Marijan Marciuš (mmarcius@irb.hr)
    Dr. Željka Petrović (zpetrov@irb.hr)
    Dr. Stjepko Krehula (krehul@irb.hr)
    Dr. Marijan Gotić (gotic@irb.hr)
    Dr. Goran Štefanić (stefanic@irb.hr)

    Termini tečajeva za korisnike

    jedanput godišnje

    Broj istovrsnih instrumenata u ustanovi

    1

    Servis uz naplatu

    prema raspoloživom cjeniku

    Znanstvena suradnja

    kvalificirana/zadužena osoba radi cjelovitu analizu (priprema, snimanje i interpretacija)

    Je li instrument prenosiv

    ne

    Je li moguće korištenje instrumenta na daljinu (remote)

    ne

  • Tržišna prilika

    Opis tržišne prilike

    -analiza poluvodiča (struktura, defekti, nečistoće), vizualizacija
    nano/mikro electroničkih komponenti
    -ekologija (analiza uzoraka zraka, čvrste čestice suspendirane u zraku, npr. azbesti, analiza uzoraka tla)
    -minerologija
    -metalurgija

    Opis usluge

    FE SEM analiza i elementna analiza

  • Kontakt osoba I

    Ime i prezime

    Mira Ristić

    Titula

    Dr.sc.

    E-mail

    ristic@irb.hr

    Telefon

    4680 107

    Faks

    4680 098

  • Kontakt osoba II

    Ime i prezime

    Marijan Marciuš

    Titula

    M.Sc.

    E-mail

    mmarcius@irb.hr

    Telefon

    4561111 / ext. 1385

  • Karakteristike

    Model

    Jeol, JSM 7000F

    Mrežna (URL) adresa instrumenta na stranicama proizvođača

    http://www.jeol.co.jp/en/products/list_sem.html

    Princip rada i mjerna tehnika

    Površina ispitivanog uzorka skenira se s vrlo precizno fokusiranim snopom elektrona. Upadni elektronski snop izbija elektrone iz atoma uzorka (sekundarne elektrone) koji se detektiraju na fotomultiplikacijskom detektoru. Pomoću mikroprocesora ovi signali pretvaraju se u električne signale pri čemu na ekranu nastaje realna trodimezionalna slika površine uzorka.
    Elementna mikroanaliza zasniva se na principu da su X-zrake emitirane iz uzorka karakteristične za svaki kemijski element prisutan u uzorku (kvalitativna kemijska analiza). Intezitet karekterističnog X-zračenja proporcionalan je udjelu svakog pojedinog kemijskog elementa u uzorku (kvantitativna kemijska analiza)

    Radno i mjerno područje

    10-500 000 x

    Proizvođač

    Jeol

    Mrežna (URL) adresa proizvođača

    http://www.jeol.co.jp/en/

    Nabavna cijena

    4

    Procijenjena vrijednost nabavke nove opreme istovjetnih karakteristika

    5 mil Kn

    Vijek trajanja

    20 godina

    Ostale tehničke karakteristike

    Schottky katoda s emisijom polja elektrona
    Optička rezolucija 1,2 nm / 20 kV
    Optička rezolucija 3 nm /5 kV
    Detektor sekundarnih elektrona (SEI)
    Detektor povratno raspršenih elektrona (BEI)
    Spektrometar karekterističnog X-zračenja (EDS) - Oxford Instruments

    Detaljne tehničke karakteristike

    Radni napon: 500 V - 20 kV
    Vakum u komori za uzorke: 10-5 Pa
    Minimalna radna udaljenost: 4 mm
    Maksimalna veličina uzorka: 12 x 12 x 10 mm

    Popratna i dodatna oprema

    Uređaj za naparavanje PECS Gatan 682
    Sušilo u kritičnoj točki Bal-tec CPD 030
    Freeze Dryer LL1500 HETO
    UPS (10 kW)
    Dizelski agregat (12 kW)

  • Slike
    Pretražni elektronski mikroskop, JSM 7000F
    Pretražni elektronski mikroskop, JSM 7000F
    Nanoporous niobium oxide
    Nanoporous niobium oxide
    Hematite microvessels
    Hematite microvessels
    Nanoporous hematite spheres
    Nanoporous hematite spheres
    Manoporous manganese oxide
    Manoporous manganese oxide
  • Linkovi

Natrag