Pretražni elektronski mikroskop Jeol JSM-35 CF (Šestar ID: 1265)

Pretražni elektronski mikroskop Jeol JSM-35 CF
  • Opći podaci o instrumentu

    Skraćeni naziv instrumenta

    Jeol

    Opći opis

    Pretražni elektronski mikroskop sa sistemom scintilator - fotomultiplikator s pojačalom i kolektorom predviđen za rezoluciju 60-150 angstrema i povećanja od 10X do 180000X. Opremljen je EDS detektorom (Oxford INCA x-act 51) za elementnu analizu i backscatter-om (Oxford). Radi na 10 kV, 20 kV i 30 kV u visokom vakuumu. Veličina uzoraka je do 76 mm. Uzorci se mogu napariti zlatom ili ugljikom.

    Uža područja primjene

    Snimanje i analiza uzoraka pomoću elektronskog mikroskopa

    Namjena instrumenta

    Snimanje i analiza uzoraka pomoću elektronskog mikroskopa

    Tijelo koje je financiralo nabavku opreme

    Donacija

    Kategorija

    kapitalna

    Vrsta instrumenta

    elektronski mikroskop

    Vrsta analize

    površinska analiza

    Primjene

    snimanje velikim povećanjem

    Ključne riječi

    SEM, EDS, backscatter

    Samostalan/Vezan

    Samostalan instrument

    Trenutno stanje instrumenta

    Potpuno funkcionalan

    Procijenjeni broj korisnika

    15

    Godina proizvodnje

    1983

  • Ustanova i lokacija

    Ustanova

    Hrvatski geološki institut
    Ulica Milana Sachsa 2, Zagreb

    Zavod

    Zavod za mineralne sirovine, Zavod za Geologiju

    Grad

    Zagreb

    Ulica i broj

    Sachsova 2

    Krilo/Kat/Soba

    Podrum

  • Uvjeti korištenja

    Način korištenja instrumenta

    samostalni rad - ovlašteni korisnici

    Popis ovlaštenih korisnika

    Nikolina Ilijanić
    Ozren Hasan
    Marija Horvat

    Broj istovrsnih instrumenata u ustanovi

    1

    Je li instrument prenosiv

    ne

    Je li moguće korištenje instrumenta na daljinu (remote)

    ne

  • Kontakt osoba I

    Ime i prezime

    Ozren Hasan

    Titula

    Dr. sc.

    E-mail

    ohasan@hgi-cgs.hr

    Telefon

    +385 1 6160746

  • Kontakt osoba II

    Ime i prezime

    Marija Horvat

    Titula

    Dr.sc.

    E-mail

    mhorvat@hgi-cgs.hr

    Telefon

    01/6160-762

  • Karakteristike

    Model

    Jeol JSM-35 CF

    Princip rada i mjerna tehnika

    Elektronski mikroskop služi za pregledavanje uzoraka na visokim povećanjima (do 180000X). Uzorci prije snimanja moraju biti napareni zlatom ili ugljikom. Za to se koristi uređaj Balzers Union Sputtering device. Moguća je i kvantitativna kemijska analiza pomoću EDS Oxford X-act 10mm SDD detektora. Za snimanje u backscatter području koristi se Oxford Link Tetra.

    Radno i mjerno područje

    rezolucija 60-150 angstrema, do 180000X povećanje

    Proizvođač

    JEOL

    Mrežna (URL) adresa proizvođača

    https://www.jeol.co.jp/en/

    Popratna i dodatna oprema

    EDS Oxford X-act 10mm SDD detektor
    Backscatter Oxford Link Tetra

  • Slike
    SEM JEOL-35 CF
    SEM JEOL-35 CF
    Uređaj za naparivanje ugljikom i zlatom Balzers Union
    Uređaj za naparivanje ugljikom i zlatom Balzers Union

Natrag