Notice: A non well formed numeric value encountered in /srv/sestar/instrumenti_show.php on line 39
Uređaj za spektrometriju fotoelektrona rendgenskim zrakama (Šestar ID: 435)
- Opći podaci o instrumentu
Skraćeni naziv instrumenta
XPS
Inventarni broj
877 (Sveučilište u Rijeci)
Opći opis
Uređaj za spektrometeriju fotoelektrona rendgenskim zrakama (XPS) je visokovakumski uređaj koji koristi rendgensko zračenje za ispitivanje površne čvstih materijala. Rendgensko zračenje može pobuditi elektron s površine materijala, ukoliko je njegova energija veća od energije vezanja elektrona u materijalu. Pobuđeni fotoelektroni se emitiraju samo iz površinskih slojeva materijala (1-10 nm udaljenosti od površine) – što XPS čini površinskom tehnikom. Energija fotoelektrona karakteristična je za atom iz kojeg se emitira, čime se može odrediti elementni sastav površine uzorka. Budući da se energija vezanja elektrona malo mijenja u ovisnosti o kemijskom okruženju atoma, ovom tehnikom je moguće dobiti informacije o kemijskom vezanju atoma na površini materijala. XPS se može koristi za dobivanje informacija o prisutnim elementima i njihovom kemijskom vezanju na površine bilo kojeg čvrstog tijela.
Uža područja primjene
fizika materijala, površinska fizika
Namjena instrumenta
analiza elementnog sastava površine, ispitivanje kemijskog vezanja atoma na površini uzorka
Opis na stranicama zavoda/laboratorija
http://phy.uniri.hr/hr/ustroj/29-hr/ustroj/laboratoriji/792-spektroskopija-elektrona-x-zrakama.html
Tijelo koje je financiralo nabavku opreme
Ministarstvo znanosti i obrazovanja RH (MZO)
Naziv projekta u sklopu kojeg je instrument nabavljen
Osnivanje Laboratorija za fiziku površina i materijala (povratnički projekt Hrvatske zaklade za znanost)
Kategorija
kapitalna
Vrsta instrumenta
spektrometar
Vrsta analize
površinska analiza
Primjene
određivanje kemijske veze
Ključne riječi
rendgensko zračenje, elektronska spektroskopija, kemijska analiza
Samostalan/Vezan
Samostalan instrument
Trenutno stanje instrumenta
Potpuno funkcionalan
Procijenjeni broj korisnika
40
Godina proizvodnje
2009
- Ustanova i lokacija
Ustanova
Sveučilište u Rijeci, Centar za mikro- i nanoznanosti i tehnologije
Radmile Matejčić 2, RijekaZavod
Zavod za eksperimentalnu i primijenjenu fiziku
Laboratorij
Laboratorij za fiziku površina
Grad
Rijeka
Ulica i broj
Radmile Matejčić 2
Krilo/Kat/Soba
O-S20
- Uvjeti korištenja
Način korištenja instrumenta
znanstvena suradnja, servis uz naplatu za sve korisnike
Upute za korisnike
Uzorci za analizu moraju biti u krutom stanju (čvrsti ili u praškastom obliku), nije dozvoljen samostalan rad vanjskim korisnicima na instrumentu - mjerenje i analizu rezultata rade ovlašteni korisnici.
Popis ovlaštenih korisnika
doc. dr. sc. Robert Peter (Odjel za fiziku i Centar za mikro- i nanoznanosti, Sveučilište u Rijeci)
doc. dr. sc. Iva Šarić (Odjel za fiziku i Centar za mikro- i nanoznanosti, Sveučilište u Rijeci)
doc. dr. sc. Ivana Jelovica Badovinac (Odjel za fiziku i Centar za mikro- i nanoznanosti, Sveučilište u Rijeci)
prof. dr. sc. Mladen Petravić (Odjel za fiziku, Sveučilište u Rijeci)Broj istovrsnih instrumenata u ustanovi
1
Znanstvena suradnja
kvalificirana/zadužena osoba radi cjelovitu analizu (priprema, snimanje i interpretacija)
Je li instrument prenosiv
ne
Je li moguće korištenje instrumenta na daljinu (remote)
ne
- Voditelj instrumenta (Kontakt osoba I)
Ime i prezime
Robert Peter
Titula
doc. dr. sc.
E-mail
rpeter@uniri.hr
Telefon
051 584 621
Faks
051 584 649
- Kontakt osoba II
Ime i prezime
Ivana Jelovica Badovinac
Titula
doc. dr. sc.
E-mail
ijelov@uniri.hr
Telefon
051 584 607
Faks
051 584 649
- Karakteristike
Model
SPECS XPS spektrometar
Mrežna (URL) adresa instrumenta na stranicama proizvođača
http://www.specs.de/cms/front_content.php?idcat=295
Princip rada i mjerna tehnika
XPS spektrometar analizira energiju fotoelektrona, pobuđenih s površine materijala pomoću monokromatskog rendgenskog zračenja. Uz elementnu analizu površine materijala, male razlike u energiji vezanja elektrona u atomu daju informacije o načinu kemijskog vezanja atoma na površini materijala.
Radno i mjerno područje
raspon energija elektrona: 0-2900 eV
Proizvođač
SPECS, Berlin, Njemačka
Mrežna (URL) adresa proizvođača
http://www.specs.de/cms/front_content.php?idcat=209
Nabavna cijena
1800000
Datum nabave
1.1.2009
Vijek trajanja
15 godina
Ostale tehničke karakteristike
a) monokromatizirani izvor rendgenskih zraka (FOCUS 500):
- duala anoda (Al/Ag) – Al Kα (1486.74 eV) or Ag Lα (2984.3 eV)
- monokromator - kvarcni momokristal
- mogućnost rada u fokusirajućem modu
b) precizan XYZ manipulator nosača uzoraka s kontroliranim grijanjem i hlađenjem
c) hemisferični analizator energije elektrona (PHOIBOS 100 MCD-5):
- promjer 100 mm
- detektor s 5 kanala
- rezolucija 0.85 eV (nefokusirajući način rada) ili 0.6 eV (fokusirajući način rada)
d) elektronski top za neutralizaciju površine (FG500)
d) ionski top za niskoenergetske ione inertnih i reaktivnih plinova (IQE 11/35) - raspon energija 0.3 - 5 keV, ionski snopovi velikog promjera, koristi se prvenstveno za ionsku implantaciju
e) ionski top s fokusiranom ionskom zrakom i diferencijalnim pumpanjem (IQE 12/38) - raspon energija 0.3 - 5 keV, promjer ionske zrake: 160 μm, raster ionske zrake u X-Y smjeru: ±5 mm, koristi se prvenstveno za ionsko rasprašivanje
f) analizator rezidualnih plinova u komori (Prisma Plus QMG 220) - Slike
- Dokumenti
- Linkovi