Pretražni elektronski mikroskop Tescan Vega 3 LMH (Šestar ID: 3929)
- Opći podaci o instrumentu
Skraćeni naziv instrumenta
SEM
Opći opis
Pretražni (skenirajući) elektronski mikroskop, opremljen detektorom sekundarnih elektrona (SE), detektorom povratno raspršenih elektrona (BSE) i EDS detektorom za elementnu analizu. Mikroskop je opremljen i fokusiranim izvorom rendgenskog zračenja, koji u sprezi s EDS detektorom omogućuje elementnu analizu uzorka rendgenskom fluorescencijskom spektrometrijom (XRF), naročito prikladnom za analizu filmova i određivanje tragova.
Namjena instrumenta
topografija površine uzorka, veličina i morfologija čestica, analiza defekata, elementna analiza uzorka, analiza tragova
Naziv projekta u sklopu kojeg je instrument nabavljen
UP.03.1.1.03.0051 - Razvoj programa cjeloživotnog učenja u području prehrambene tehnologije, biotehnologije i nutricionizma primjenom HKO-a; KK.05.1.1.02.0012 - Integrirani sustav uzgoja alternativnih vrsta školjkaša u uvjetima klimatskih promjena
Kategorija
kapitalna
Ključne riječi
pretražna elektronska mikroskopija, SEM, EDS, XRF, elementna analiza, analiza tragova
Samostalan/Vezan
Samostalan instrument
Trenutno stanje instrumenta
Potpuno funkcionalan
Godina proizvodnje
2020
- Ustanova i lokacija
Ustanova
Sveučilište u Zagrebu, Prehrambeno-biotehnološki fakultet
Pierottijeva ulica 6, ZagrebZavod
Zavod za kemiju i biokemiju
Laboratorij
Laboratorij za opću i anorgansku kemiju i elektroanalizu
Grad
Zagreb
Ulica i broj
Pierottijeva 6
Krilo/Kat/Soba
V.
- Voditelj instrumenta (Kontakt osoba I)
Ime i prezime
Damir Iveković
E-mail
divekov@pbf.hr
- Karakteristike
Model
Vega 3 LMH
Proizvođač
Tescan
Mrežna (URL) adresa proizvođača
http://www.tescan.com
Detaljne tehničke karakteristike
SEM (Tescan Vega 3 LMH):
izvor: W filament
nominalna rezolucija: 3 nm (30 keV), 8 nm (3 keV)
radni vakuum u komori: 0.5-5 mPa
akcelerirajući napon: 0.2-30 kV
struja snopa: 1 pA - 2 uA
linearni pomak postolja za uzorke (x/y/z): 80/60/47 mm
najveća visina uzorka: 81 mm
EDS (IXRF SDD2930):
tehnologija detektora: SDD
površina detektora: 30 mm2
rezolucija za Mn K (5,89 keV): 129 eV
rezolucija za C K: 52 eV
materijal prozora: Moxtek AP3.3 (detekcija elemenata Z >= 4)
XRF izvor (IXRF fX35)
meta: Rh
akcelerirajući napon: 10-35 kV (podesivo)
struja snopa: do 0.1 mA
veličina točke snopa na uzorku: 0.2 mm
-
Slike
Tescan Vega 3 LMH