Skraćeni naziv instrumenta
AFM
Inventarni broj
3400
Opći opis
Mikroskop atomskih sila sa mogućnošću snimanja u ambijentalnim uvjetima i u tekućinama, različiti modovi rada
Uža područja primjene
Površinska fizika
Namjena instrumenta
Određivanje topografije uzorka i površinskih svojstava na nano-skali
Tijelo koje je financiralo nabavku opreme
Znanstveni centar izvrsnosti za napredne materijale i senzore (CEMS)
Kategorija
kapitalna
Vrsta instrumenta
mikroskop
Vrsta analize
površinska analiza
Primjene
snimanje velikim povećanjem
Samostalan/Vezan
Samostalan instrument
Trenutno stanje instrumenta
Potpuno funkcionalan
Procijenjeni broj korisnika
30
Godina proizvodnje
2019
Ustanova
Institut za fizikuBijenička cesta 45, Zagreb
Krilo/Kat/Soba
2. krilo, prizemlje, soba 125
Način korištenja instrumenta
samostalni rad - ovlašteni korisnici, znanstvena suradnja
Je li instrument prenosiv
ne
Je li moguće korištenje instrumenta na daljinu (remote)
Ime i prezime
Ida Delač Marion
Titula
dr. sc.
E-mail
idelac@ifs.hr
Iva Šrut Rakić
isrut@ifs.hr
Natrag