Mikroskop atomskih sila (AFM)/ pretražni tunelirajući mikroskop s elektrokemijskim modom rada (EC-STM) koristi se za oslikavanje površina i međupovršina s atomskim razlučivanjem, za dobivanje informacija o lokalnoj elektronskoj strukturi te za ispitivanje nanomehaničkih svojstava uzoraka. Mjerenja se mogu provoditi na zraku i u tekućini. Primjenom uređaja provode se istraživanja koja obuhvaćaju karakterizaciju različitih nanostruktura, organiziranih slojeva organskih molekula adsorbiranih na površini, bioloških makromolekula, polimera, koloida, površine kristala, proučavanje interakcija između adsorbiranih molekula te adsorbiranih molekula i površine, istraživanja elektrokemijskih procesa kao što su adsorpcija, depozicija, korozija te praćenje redoks reakcija in-situ.
Tijelo koje je financiralo nabavku opreme
Ministarstvo znanosti i obrazovanja RH (MZO), Europska komisija
Naziv projekta u sklopu kojeg je instrument nabavljen
