Spektroskopski elipsometar s oslikavanjem (Šestar ID: 1640)
- Opći podaci o instrumentu
Skraćeni naziv instrumenta
Spektroskopski elipsometar s oslikavanjem
Inventarni broj
4029
Opći opis
Spektroskopska elipsometrija je ne-destruktivna optička metoda za mjerenje debljine i optičko-elektroničkih svojstava tankih filmova. Oslikavajuća spektroskopija nudi kombinirane prednosti elipsometrije i mikroskopije, što omogućuje prelazak ograničenja klasičnih elipsometara.
Uža područja primjene
Znanost o materijalima, fizika, elektronika, optika, fizikalna kemija
Namjena instrumenta
Karakterizacija tankih filmova, mjerenje optičkih svojstava materijala u tankim filmovima
Popis usluga
Mjerenje debljine i dielektrične funkcije tankih filmova, oslikavanje uzorka uz kontrast dielektrične kostante, rezonancija površinskih plazmona s lateralnom rezolucijom 2 um, mikroskopija pri Brewsterovom kutu
Opis na stranicama zavoda/laboratorija
http://cmnzt.uniri.hr/lcpi/
Tijelo koje je financiralo nabavku opreme
Ministarstvo znanosti i obrazovanja RH (MZO), Europska komisija
Naziv projekta u sklopu kojeg je instrument nabavljen
RISK - Research Infrastructure for Campus-based Laboratories at the University of Rijeka (grant number RC.2.2.06-0001)
Kategorija
kapitalna
Vrsta instrumenta
elipsometar
Vrsta analize
optička karakterizacija
Primjene
određivanje strukture
Ključne riječi
spektroskopska elipsometrija, mikroskop, dielektrična funkcija, tanki film, indeks loma, debljina
Samostalan/Vezan
Vezan u eksperimentalnu liniju
Trenutno stanje instrumenta
Potpuno funkcionalan
Procijenjeni broj korisnika
3
Godina proizvodnje
2014
- Ustanova i lokacija
Ustanova
Sveučilište u Rijeci, Centar za mikro- i nanoznanosti i tehnologije
Radmile Matejčić 2, RijekaLaboratorij
Laboratorij za koloide, polielektrolite i međupovršine
Grad
RIjeka
Ulica i broj
Radmile Matejčić 2
Krilo/Kat/Soba
1
- Uvjeti korištenja
Način korištenja instrumenta
znanstvena suradnja, servis uz naplatu za sve korisnike
Upute za korisnike
Za više informacija molim javiti se doc. dr. sc. Dušku Čakari (dcakara@uniri.hr)
Cjenik korištenja
445,52 Kn / sat
Popis ovlaštenih korisnika
Doc. dr. sc. Duško Čakara
Znanstvena suradnja
kvalificirana/zadužena osoba radi cjelovitu analizu (priprema, snimanje i interpretacija)
Je li instrument prenosiv
ne
Je li moguće korištenje instrumenta na daljinu (remote)
ne
- Voditelj instrumenta (Kontakt osoba I)
Ime i prezime
Duško Čakara
Titula
Dr. sc.
E-mail
dcakara@uniri.hr
Telefon
051 584555
Mobitel
091 9570 399
- Karakteristike
Model
Accurion EP4
Mrežna (URL) adresa instrumenta na stranicama proizvođača
https://www.accurion.com/thin-film-characterization-imaging-ellipsometry
Princip rada i mjerna tehnika
Modularnost Accurion EP4 oslikavajućeg spektroskopskog elipsometra nudi razne prednosti:
Spektroskopska elipsometrija s najvećim mogućim lateralnim razlučenjem (2μm) – mapiranje dielektrične funkcije; 3D mape debljine filmova. Softver EP4 model omogućuje "fitanje" debljine te izo- i anizotropnih dielektričnih funkcija za naslagane slojeve različitih optičkih materijala. Ćelija za mjerenje na granici tekuće-čvrsto te elektrokemijska ćelija omogućuju mjerenja uzoraka u kontaktu s tekućim medijem, te uz elektrokemijsku pobudu (u kombinaciji s potenciostatom Autolab PGSTAT128N). Mikroskopija pod Brewsterovim kutem – oslikavanje tekućih površina uz visok kontrast, bez uporabe boja. Rezonancija površinskih plazmona s lateralnim razlučenjem 2μm. Primjena ovih tehnika se tipično nalazi u trokutu između fizike i biofizike, kemije materijala te nanotehnologije.
Radno i mjerno područje
300-1700 nm
Proizvođač
Accurion GmbH
Nabavna cijena
2
Procijenjena trenutna vrijednost opreme
893
Vijek trajanja
5 godina
- Slike
- Dokumenti
- Linkovi