Pretražni elektronski mikroskop s emisijom polja Jeol JSM-7800F (Šestar ID: 1548)
- Opći podaci o instrumentu
Skraćeni naziv instrumenta
FE SEM
Inventarni broj
4774 (Sveučilište u Rijeci)
Opći opis
Pretražni elektronski mikroskop (SEM): vrsta elektronskog mikroskopa koji omogućuje promatranje i karakterizaciju heterogenih organskih i anorganskih materijala na nanometarskoj (nm) i mikrometarskoj (μm) razini.
SEM omogućuje dobivanje trodimenzionalnih slika površine širokog raspona materijala. Površina koju želimo ispitati ili mikro-obujam kojega želimo analizirati ozračen je dobro fokusiranim elektronskim snopom, koji može raditi raster preko površine u svrhu stvaranja slike ili može biti statičan za elementnu analizu uzorka u jednoj točki. Rezultati međudjelovanja elektrona iz snopa i uzorka mogu biti ili sekundarni elektroni (emitirani iz uzorka) ili povratno raspršeni elektroni (iz elektronskog snopa). Signali se mogu koristiti za ispitivanje različitih karakteristika uzoraka, kao što su topografija površine, kristalografija, kemijski sastav, itd.Uža područja primjene
fizika materijala, površinska fizika, biologija
Namjena instrumenta
morfologija površine materijala, veličina i distribucija veličina čestica, homogenost materijala, mehanička oštećenja,određivanje debljine i homogenosti filmova
Opis na stranicama zavoda/laboratorija
http://www.phy.uniri.hr/hr/ustroj/laboratoriji/29-hr/ustroj/laboratoriji/1291-laboratorij-za-pretraznu-elektronsku-mikroskopiju.html
Tijelo koje je financiralo nabavku opreme
Ministarstvo znanosti i obrazovanja RH (MZO), Europska komisija
Naziv projekta u sklopu kojeg je instrument nabavljen
Razvoj istraživačke infrastrukture na Kampusu Sveučilišta u Rijeci
Kategorija
kapitalna
Vrsta instrumenta
mikroskop
Vrsta analize
površinska analiza
Primjene
vizualizacija
Ključne riječi
FE SEM, STEM, EDS, pretražna elektronska mikroskopija
Samostalan/Vezan
Samostalan instrument
Trenutno stanje instrumenta
Potpuno funkcionalan
Procijenjeni broj korisnika
20
Godina proizvodnje
2014
- Ustanova i lokacija
Ustanova
Sveučilište u Rijeci, Centar za mikro- i nanoznanosti i tehnologije
Radmile Matejčić 2, RijekaZavod
Zavod za eksperimentalnu i primijenjenu fiziku
Laboratorij
Laboratorij za pretražnu elektronsku mikroskopiju
Grad
Rijeka
Ulica i broj
Radmile Matejčić 2
Krilo/Kat/Soba
O-120
- Uvjeti korištenja
Način korištenja instrumenta
samostalni rad - ovlašteni korisnici, znanstvena suradnja, servis uz naplatu za korisnike izvan sustava MZOS
Upute za korisnike
Uzorci za analizu moraju biti u čvrstom agregatnom stanju (čvrsti ili u praškastom obliku), ne smiju sadržavati hlapiva organska otapala i vodu. Nije dozvoljen samostalan rad vanjskim korisnicima na instrumentu - mjerenje i analizu rezultata rade ovlašten
Popis ovlaštenih korisnika
doc. dr. sc. Ivna Kavre Piltaver (Odjel za fiziku i Centar za mikro- i nanoznanosti i tehnologije, Sveučilište u Rijeci)
doc. dr. sc. Ivana Jelovica Badovinac (Odjel za fiziku i Centar za mikro- i nanoznanosti i tehnologije, Sveučilište u Rijeci)
prof. dr. sc. Mladen Petravić (Odjel za fiziku, Sveučilište u Rijeci)Broj istovrsnih instrumenata u ustanovi
1
Znanstvena suradnja
kvalificirana/zadužena osoba radi cjelovitu analizu (priprema, snimanje i interpretacija)
Je li instrument prenosiv
ne
Je li moguće korištenje instrumenta na daljinu (remote)
ne
- Voditelj instrumenta (Kontakt osoba I)
Ime i prezime
Ivna Kavre Piltaver
Titula
docent
E-mail
ivna.kavre@uniri.hr
Telefon
051 584 618
- Kontakt osoba II
Ime i prezime
Ivana Jelovica Badovinac
Titula
docent
E-mail
ijelov@uniri.hr
Telefon
051 584 607
- Karakteristike
Model
Jeol, JSM 7800F
Mrežna (URL) adresa instrumenta na stranicama proizvođača
https://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JSM-7800F.html
Princip rada i mjerna tehnika
Princip rada pretražnog elektronskog mikroskopa temelji se na detektiranju međudjelovanja elektronskog snopa i uzorka pri čemu na ekranu računala nastaje slika. Primarni elektroni (elektroni koji dolaze iz izvora) ulaze na uzorak te ovisno o njihovim energijama te o debljini, sastavu i svojstvima uzorka bivaju propušteni kroz uzorak bez međudjelovanja ili međudjeluju tako da pri sudaru s uzorkom dolazi do raspršenja (elastično ili neelastično). Kao posljedica međudjelovanja primarnih elektrona s uzorkom mogu se emitirati X-zrake, svjetlost ili elektroni (sekundarni, povratno-raspršeni, transmitirani) koji potječu iz atoma proučavanog uzorka.
Radno i mjerno područje
25 - 1 000 000 x
Proizvođač
Jeol
Mrežna (URL) adresa proizvođača
http://www.jeol.co.jp/en/
Vijek trajanja
20 godina
Ostale tehničke karakteristike
Schottky katoda s emisijom polja elektrona
Maksimalnom rezolucijom: 0.8 nm
Naponom ubrzanja između 0.01 – 30 kV
Rasponom povećanja: x25 – 1000000
Mikroskop je opremljen sa sljedećim detektorima:
- Donji detektor za sekundarne elektrone (LED)
- Gornji detektor za sekundarne elektrone (UED)
- Detektor za povratno raspršene elektrone (BED)
- Detektor za transmitirane elektrone (STED)
- Energo-disperzivni detektor rendgenskih zraka (EDS) – korišten za analizu elementnog sastava uzorka.
Popratna i dodatna oprema
Uređaji za pripremu uzoraka:
- Uređaj za precizno jetkanje i naprašivanje (Gatan PECS II Model 685) – s dva ionska topa za jetkanje čvrstih uzoraka s nisko-energetskim Ar+ ionima (raspon energija 0.1 – 8 keV). Također se može koristiti za naprašivanje uzoraka s C, Au, Pt/Pd, Cr i Pt.
- Uređaj za precizno ionsko poliranje (Gatan PIPS II Model 695) – s dva ionska topa za poliranje čvrstih uzoraka s nisko-energetskim Ar+ ionima (raspon energija 0.1 – 8 keV). Primarno se koristi za pripremu uzoraka za pretražnu transmisijsku elektronsku mikroskopiju (STEM).
- Uređaj za sušenje koji radi na principu kritične točke (Quorum K 850) – korišten za dehidrataciju bioloških uzoraka (zamijenjuje vodu s tekućim CO2).
- Precizna pila s dijamantnom žicom (Well 3242) – žica iz nehrđajučeg čelika s dijamantnim česticama koristi se za rezanje različitiv vrsta uzoraka. Omogućuje dobivanje glatkih i oštrih rubova.
- Precizna pila s dijamantnim diskovima (Buehler Iomet 1000) – koristi se za rezanje različitih vrsta materijala (metali, stakla, keramike, plastike, biomaterijali) prouzrokujući minimalne deformacije.
-
Slike
Pretražni elektronski mikroskop, JSM 7800F
Detektori
Titanov oksid na silicijevom supstratu narastan tehnikom depozicije atomskih slojeva
Zeolit
Diatome
Vlakno celuloze obloženo 50 nm Al2O3 slojem pomoću metode depozicije atomskih slojeva - Dokumenti
- Linkovi
JSM-7800F