Pretražni elektronski mikroskop, JSM 7000F (Šestar ID: 14)Autoriziran
- Opći podaci o instrumentu
Skraćeni naziv instrumenta
FE SEM
Opći opis
Pretražni elektronski mikroskop s emisijom polja elektrona, FE SEM je vrsta elektronskog mikroskopa pomoću kojeg je moguće dobiti visokorezolucijsku sliku istraživanog objekta.
Osnovne karakteristike pretražnog elektronskog mikroskopa JSM 7000F su:
-Optička rezolucija 1,2 nm
-Rad pri vrlo niskim radnim naponima čime se spriječava površinsko elektrostatsko nabijanje uzorka
-Simultana analiza kemijskih elemenata (kvalitativna + puna kvantitativna) od berilija do urana (uključujući sve transuranske elemente) u točki, crti i panoramski
-Pamćenje pojedinih točki, crta ili panorame i njihovo ponovno vraćanje za analizu
-Mapiranje distribucije kemijskih elemenata u uzorku
-Dovoljno prostora u komori za rad s prirodnim ili komercijalnim uzorcima
-Sinkronizirano pomicanje uzoraka po X, Y, Z osi, tiltanje, te okretanje od 0 do 360 o
Uža područja primjene
Kemija, Fizika, Znanost o materijalima, Farmaceutika, Stomatologija, Geologija, Minerologija
Namjena instrumenta
veličina i morfologija čestica, strukturni defekti, kemijski sastav
Popis usluga
analiza funkcionalnih i strukturnih materijala, analiza minerala i geoloških uzoraka, analiza suspendiranih čestica u zraku
Opis na stranicama zavoda/laboratorija
http://www.irb.hr/Istrazivanja/Zavodi-i-centri/Zavod-za-kemiju-materijala/Laboratorij-za-sintezu-novih-materijala
Tijelo koje je financiralo nabavku opreme
Ministarstvo znanosti i obrazovanja RH (MZO)
Naziv projekta u sklopu kojeg je instrument nabavljen
Sinteza i mikrostruktura metalnih oksida i oksidnih stakala
Kategorija
kapitalna
Vrsta instrumenta
elektronski mikroskop
Vrsta analize
površinska analiza
Primjene
vizualizacija
Ključne riječi
FE SEM, EDS, pretražna elektronska mikroskopija
Samostalan/Vezan
Samostalan instrument
Trenutno stanje instrumenta
Potpuno funkcionalan
Procijenjeni broj korisnika
500
Godina proizvodnje
2005
- Ustanova i lokacija
Ustanova
Institut Ruđer Bošković
Bijenička cesta 54, ZagrebZavod
Zavod za kemiju materijala
Laboratorij
LSNM
Grad
Zagreb
Ulica i broj
Bijenička cesta 54
Krilo/Kat/Soba
X/suteren/002A
- Uvjeti korištenja
Način korištenja instrumenta
samostalni rad - ovlašteni korisnici, servis uz naplatu za sve korisnike
Upute za korisnike
Uzorci moraju biti u čvrstom agregatnom stanju (npr. oksidi, metali, slitine, keramike, itd.). Ne smiju sadržavati hlapiva organska otapala, vodu i radioaktivne izotope i ne smiju sadržavati eksplozivne komponente. Upite o FE SEM/EDS analizi molimo poslat
Cjenik korištenja
Za korisnike iz IRB-a:
SEM: 130 kn / h
SEM+EDS: 177.73 kn / h
Za korisnike iz sustava znanosti:
SEM: 382,01 kn/h + PDV
SEM+EDS: 439,61 kn/h + PDV
Za korisnike izvan sustava znanosti RH:
SEM: 1.217,72 kn/h + PDV
SEM+EDS: 1.468,18 kn/h + PDV
Popis ovlaštenih korisnika
Dr. Josip Bronić (bronic@irb.hr)
Prof. Marijan Marciuš (mmarcius@irb.hr)
Dr. Željka Petrović (zpetrov@irb.hr)
Dr. Stjepko Krehula (krehul@irb.hr)
Termini tečajeva za korisnike
jedanput godišnje
Broj istovrsnih instrumenata u ustanovi
1
Servis uz naplatu
prema raspoloživom cjeniku
Znanstvena suradnja
kvalificirana/zadužena osoba radi cjelovitu analizu (priprema, snimanje i interpretacija)
Je li instrument prenosiv
ne
Je li moguće korištenje instrumenta na daljinu (remote)
ne
- Tržišna prilika
Opis tržišne prilike
-analiza kemijskog sastava (EDS) i morfologije mikro- i nanometarskih čestica stabilnih spojeva
-analiza poluvodiča (struktura, defekti, nečistoće), vizualizacija
nano/mikro electroničkih komponenti
-ekologija (analiza uzoraka zraka, čvrste čestice suspendirane u zraku, npr. azbesti, analiza uzoraka tla)
-minerologija
-metalurgijaOpis usluge
FE SEM analiza i elementna analiza
- Voditelj instrumenta (Kontakt osoba I)
Ime i prezime
Josip Bronić
Titula
Dr.sc.
E-mail
bronic@irb.hr
Telefon
01 4680 991
Faks
01 4680 098
- Kontakt osoba II
Ime i prezime
Marijan Marciuš
Titula
Prof. fizike
E-mail
mmarcius@irb.hr
Telefon
01 456 1111 / ext. 1583
- Karakteristike
Model
Jeol, JSM 7000F
Mrežna (URL) adresa instrumenta na stranicama proizvođača
http://www.jeol.co.jp/en/products/list_sem.html
Princip rada i mjerna tehnika
Površina ispitivanog uzorka skenira se s vrlo precizno fokusiranim snopom elektrona. Upadni elektronski snop izbija elektrone iz atoma uzorka (sekundarne elektrone) koji se detektiraju na fotomultiplikacijskom detektoru. Pomoću mikroprocesora ovi signali pretvaraju se u električne signale pri čemu na ekranu nastaje realna trodimezionalna slika površine uzorka.
Elementna mikroanaliza zasniva se na principu da su X-zrake emitirane iz uzorka karakteristične za svaki kemijski element prisutan u uzorku (kvalitativna kemijska analiza). Intezitet karekterističnog X-zračenja proporcionalan je udjelu svakog pojedinog kemijskog elementa u uzorku (kvantitativna kemijska analiza)
Radno i mjerno područje
10-500 000 x
Proizvođač
Jeol
Mrežna (URL) adresa proizvođača
http://www.jeol.co.jp/en/
Nabavna cijena
5000000
Procijenjena vrijednost nabavke nove opreme istovjetnih karakteristika
5 mil kn
Vijek trajanja
20 godina
Ostale tehničke karakteristike
Schottky katoda s emisijom polja elektrona
Optička rezolucija 1,2 nm / 20 kV
Optička rezolucija 3 nm /5 kV
Detektor sekundarnih elektrona (SEI)
Detektor povratno raspršenih elektrona (BEI)
Spektrometar karekterističnog X-zračenja (EDS) - Oxford InstrumentsDetaljne tehničke karakteristike
Radni napon: 500 V - 20 kV
Vakum u komori za uzorke: 10-5 Pa
Minimalna radna udaljenost: 4 mm
Maksimalna veličina uzorka: 12 x 12 x 10 mmPopratna i dodatna oprema
Uređaj za naparavanje PECS Gatan 682
Sušilo u kritičnoj točki Bal-tec CPD 030
Freeze Dryer LL1500 HETO
UPS (10 kW)
Dizelski agregat (12 kW) -
Slike
Pretražni elektronski mikroskop, JSM 7000F
Nanoporous niobium oxide
Hematite microvessels
Nanoporous hematite spheres
Manoporous manganese oxide - Linkovi
