Rendgenski difraktometar PANalyticalX'Pert Powder (Šestar ID: 1352)
- Opći podaci o instrumentu
Skraćeni naziv instrumenta
XRD
Opći opis
Rendgenski difraktometar koristi se za kvantitativne i kvalitativne rendgenske analize praškastih uzoraka metodom rendgenske difrakcije, a omogućuje određivanje kristalnih struktura, kemijskog sastava, preferiranu orijentaciju i debljinu slojeva.
Uređaj je opremljen keramičkom rendgenskom cijevi Cu anode (CuKα1 zračenje valne duljine λ=1,5405 Å) za stvaranje rendgenskog zračenja, vertikalnim goniometrom θ-θ geometrije i PIXcel detektorom. Rendgenskim difraktometrom se upravlja pomoću programa X'Pert Quantify, dok se difrakcijske slike očitavaju i identificiraju pomoću programa X'Pert HighScore Plus.Uža područja primjene
Mineralogija, mineralogija glina
Namjena instrumenta
Mineraloška analiza praškastih uzoraka
Tijelo koje je financiralo nabavku opreme
Ministarstvo znanosti i obrazovanja RH (MZO), Matična ustanova
Kategorija
kapitalna
Vrsta instrumenta
rendgenski difraktometar
Vrsta analize
mineraloška analiza
Primjene
mineralogija, mineralogija glina
Ključne riječi
XRD, identifikacija minerala, kvantifikacija minerala, mineralogija glina
Samostalan/Vezan
Samostalan instrument
Trenutno stanje instrumenta
Potpuno funkcionalan
Procijenjeni broj korisnika
3
Godina proizvodnje
2009
- Ustanova i lokacija
Ustanova
Hrvatski geološki institut
Ulica Milana Sachsa 2, ZagrebZavod
Svi zavodi
Laboratorij
XRD laboratory
Grad
Zagreb
Ulica i broj
Sachsova 2
Krilo/Kat/Soba
Podrum
- Uvjeti korištenja
Je li instrument prenosiv
ne
Je li moguće korištenje instrumenta na daljinu (remote)
da
- Voditelj instrumenta (Kontakt osoba I)
Ime i prezime
Nikolina Ilijanić
Titula
Dr. sc.
E-mail
nilijanic@hgi-cgs.hr
Telefon
+38516160744
- Kontakt osoba II
Ime i prezime
Anita Grizelj
Titula
Dr. sc.
E-mail
agrizelj@hgi-cgs.hr
Telefon
+38516160762
- Karakteristike
Model
PANalyticalX'Pert Powder
Princip rada i mjerna tehnika
Rendgenska difrakcija na prahu temelji se na difrakciji rendgenskih zraka na mrežnim ravninama kristala. Kao dio elektromagnetskog zračenja valne duljine između 0,01 nm i 10 nm, rendgenske zrake su slične veličini atoma, radi čega se i koriste u mineraloškim analizama. Svaka mrežna ravnina daje difrakcijski maksimum prema kojem se mijenja i kut između upadnog i difraktiranog zračenja (2ϴ). Konverzijom 2ϴ kutova difrakcijskih maksimuma i određenim međumrežnim razmakom moguća je identifikacija minerala, jer svaki mineral ima jedinstvenu difrakcijsku sliku.
Uzorci za snimanje moraju biti dobro usitnjeni u ahatnom tarioniku, nakon čega se uzorak puni u nosače i stavlja na snimanje.
Za određivanje minerala glina pomoću XRD-a, potrebno je napraviti orijentirane uzorke, čime se naglašavaju bazalni maksimumi minerala glina. Za izradu orijentiranih uzoraka, potrebno je prvo eliminirati mineralne faze koje smetaju pri identifikaciji minerala glina kao što su karbonati, a zatim izdvojiti glinenu frakciju (<2 µm). Dodatni postupci obuhvaćaju tretiranje etilen glikolom; žarenje na 400°C; žarenje na 550°C; tretiranje s DMSO (dimetil sulfoksid); saturiranje kalijem i sušenje na zraku; saturiranje kalijem i žarenje na 350°C; saturiranje magnezijem i tretiranje glicerolom. Orijentirani uzorci snimani su u području od 4 do 20 ili 30°2θ.Proizvođač
PANalytical
Mrežna (URL) adresa proizvođača
www.panalytical.com/Home.htm
Nabavna cijena
1300000
Ostale tehničke karakteristike
Uređaj je opremljen keramičkom rendgenskom cijevi Cu anode (CuKα1 zračenje valne duljine λ=1,5405 Å) za stvaranje rendgenskog zračenja, vertikalnim goniometrom θ-θ geometrije i PIXcel detektorom. Rendgenskim difraktometrom se upravlja pomoću programa X'Pert Quantify, dok se difrakcijske slike očitavaju i identificiraju pomoću programa X'Pert HighScore Plus.
Popratna i dodatna oprema
Keramička peć za žarenje uzoraka
-
Slike
Rendgenski difraktometar - rendgenska cijev, nosač uzorka i PIXcel detektor
Rendgenski difraktometar
