Scanning electron microscope

  • Skraćeni naziv instrumenta

    SEM

    Type of the analysis

    , , ,

    Procijenjeni broj korisnika

    30

    Year of manufacture

    2021

  • Ustanova en

    Sveučilište u Splitu, Prirodoslovno-matematički fakultet
    Ruđera Boškovića 33, Split

  • Način korištenja instrumenta

    , ,

  • Model

    JEOL JSM-7610FPlus

    Mrežna (URL) adresa instrumenta na stranicama proizvođača

    https://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JSM-7610FPlus.html

    Proizvođač

    JEOL

    Mrežna (URL) adresa proizvođača

    https://www.jeol.co.jp/en/

Natrag en