Atomic force microscope (AFM) - Nanosurf FlexAFM

Atomic force microscope (AFM) - Nanosurf FlexAFM

  • Skraćeni naziv instrumenta

    AFM

    Inventarni broj

    2878

    Opći opis

    Atomic force microscope for measurements in ambient or liquid conditions, static or dynamic mode, maximum scan range 10x10 micrometers, maximum z-range 3 micrometers.

    Uža područja primjene

    Surface physics

    Namjena instrumenta

    Measurements of surface topography on nanoscale

    Procijenjeni broj korisnika

    30

    Year of manufacture

    2011

  • Ustanova en

    Institut za fiziku
    Bijenička cesta 45, Zagreb

  • Način korištenja instrumenta

    ,

  • Ime i prezime

    Ida Delač Marion

    Titula

    dr. sc.

    E-mail

    idelac@ifs.hr

  • Ime i prezime

    Iva Šrut Rakić

    Titula

    dr. sc.

    E-mail

    isrut@ifs.hr

  • Slike en
    Nanosurf FlexAFM
    Nanosurf FlexAFM

Natrag en